浪(lang)涌保護(hu)器(qi)中常用(yong)的一種元器(qi)件(jian)是壓(ya)敏(min)(min)電(dian)(dian)阻(zu)，它是有使用(yong)壽命的，特(te)別是在受(shou)到環(huan)境等諸多因素(su)的影響及隨(sui)著使用(yong)時間增長，壓(ya)敏(min)(min)電(dian)(dian)阻(zu)會逐漸(jian)失效。今天，鈞和電(dian)(dian)子(zi)為您詳(xiang)細(xi)分享(xiang)浪(lang)涌保護(hu)器(qi)中壓(ya)敏(min)(min)電(dian)(dian)阻(zu)的失效形式。

一是，劣化

劣(lie)化是指由于浪涌、使用或不利環境的(de)(de)影(ying)響造成(cheng)(cheng)浪涌保護(hu)器原始性能參數的(de)(de)變化，表現為：漏電流(liu)增大(da)，壓敏(min)電阻顯著下(xia)降，直至(zhi)為零。當泄漏電流(liu)持續增大(da)到(dao)幾十毫安(an)至(zhi)幾安(an)，會(hui)使溫度(du)不斷(duan)升(sheng)高，若(ruo)不切斷(duan)電路，會(hui)造成(cheng)(cheng)MOV芯片熱熔擊穿，一旦MOV芯片被擊穿，就成(cheng)(cheng)了一個(ge)阻值很低的(de)(de)導體，造成(cheng)(cheng)系統短路并且發(fa)熱量大(da)幅降低，熱脫離(li)保護(hu)機構將失去作用。嚴重(zhong)的(de)(de)會(hui)造成(cheng)(cheng)起(qi)火、損毀設備。

據相(xiang)關試驗(yan)表明，當通以(yi)直流(liu)電(dian)流(liu)時，在ZnO非線性(xing)電(dian)阻(zu)上(shang)，可觀(guan)察(cha)到(dao)伏(fu)(fu)安(an)特(te)性(xing)的(de)非對(dui)稱(cheng)性(xing)劣化。其(qi)次，發現靜電(dian)電(dian)容對(dui)偏壓(ya)的(de)依賴關系(xi)的(de)變(bian)化及(ji)在低頻域(yu)介質(zhi)損耗的(de)增大，又進(jin)一步(bu)在劣化的(de)元件上(shang)，觀(guan)察(cha)到(dao)與其(qi)劣化程度相(xiang)對(dui)應的(de)熱(re)刺激(ji)電(dian)流(liu)，在測(ce)量熱(re)刺激(ji)電(dian)流(liu)之后，伏(fu)(fu)安(an)特(te)性(xing)基(ji)本上(shang)恢(hui)復(fu)原來狀(zhuang)態。

二是，炸裂

若過電壓(ya)引(yin)起的浪涌能量太大(da)，超過了所選用的壓(ya)敏電阻器的極限承受(shou)能力，則(ze)壓(ya)敏電阻器在抑制過電壓(ya)時將會發生陶瓷(ci)炸(zha)裂現象。

三是(shi)，熱(re)崩潰

如(ru)果浪涌保(bao)護器承受(shou)的功率損(sun)耗超過外殼(ke)和連接件(jian)的散熱能(neng)力(li)，將引起內部元件(jian)溫度逐漸(jian)升高，最終導致器損(sun)害，此過程(cheng)成為熱崩(beng)潰。

四是，穿孔

若過電壓(ya)峰值很高，將的導致壓(ya)敏(min)電阻(zu)器陶瓷(ci)發生電擊(ji)穿，表現為穿孔。

掌握上(shang)述壓(ya)敏電阻的劣化特性后，我們(men)可(ke)以根(gen)據這些狀態來采取更(geng)換浪(lang)涌保護(hu)器的措(cuo)施，確(que)保電氣和(he)電子線(xian)路的安全(quan)。